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半导体行业专用仪器
OAI Model 212紫外光刻机
OAI Model 800E紫外光刻机
OAI掩膜光刻机Model 6000
Model 6020S紫外光刻机
URE-2000/35A型紫外单面光刻机
URE-2000B型紫外单面光刻机
ZEP520A电子束光刻胶
AZ 1500系列i线光刻胶
德国ALLRESIST导电胶AR-PC5090和AR-PC5091
英国EM SML Resist电子束光刻胶
光学仪器及设备
海德堡μMLA桌面无掩模光刻机
OAI UV Led光源
URE-2000/35AL型紫外单面光刻机
URE-2000/30型紫外单面光刻机
URE-2000S/35L(B)型双面光刻机
URE-2000S/35L(A)型紫外双面光刻机
URE-2000S/25S型双面光刻机
URE-2000S/A8型紫外双面光刻机
URE-2000S/A型紫外双面光刻机
URE-2000S/B型紫外双面光刻机
其他
美国NanoArch陶瓷树脂精密3D打印机MicroArch S240
日立Hitachi离子溅射仪MC1000
英国Nanomagnetics振动样品磁强计VSM
英国HHV溅射镀膜仪BT150,BT300
法国Plassys微波等离子体化学气相沉积系统SSDR 150
法国Alyxan高分辨质子传递反应质谱PTR-FTICR MS
德国Sentech光伏测量仪MDPspot
德国Sentech光伏测量仪MDPmap
德国Sentech光伏测量仪器MDPpro
MDPinlinescan在线寿命和电阻率逐行扫描仪
制样/消解设备
NIE-4000离子束刻蚀系统
牛津Oxford等离子体刻蚀机PlasmaPro 80 RIE
美TED Pella高分辨离子溅射仪208HR
美TED PELLA自动离子溅射仪108AUTO
PDC-002美国Harrick扩展型等离子清洗机
PDC-32G-2美国Harrick基本型等离子清洗机
德国Diener等离子清洗机Nano
德国Diener等离子清洗机Zepto
德国Diemer等离子清洗机Femto
德国Diener等离子清洗机
分子生物学仪器
IZON qEV尺寸排阻柱
德国Kruss液滴形状分析DSA25
等离体共振分析仪MP-SPR Navi 220A
Micro Pulser电穿孔仪
英国Cleaver高分辨率垂直电泳系统CSQ20
瑞士罗氏Roche全自动核酸纯化仪MagNA
英国CLEAVER水平电泳系统Horizontal Gel
台式钙流检测工作站FlexStation 3
美国Molecular光吸收型酶标仪SpectraMax 190
美国Sciex遗传分析系统GenomeLab GeXP
清洗/消毒设备
美国必能信Branson台式超声波清洗机CPX1800-8800系列
美国Uvitron全功能紫外面光源Intelli-RAY 400W
紫外线杀菌消毒台灯QD-UV-01
英国Glovebox学术手套箱Academic
英国Glovebox真空室手套箱
PDC-MG美国Harrich高集成度等离子清洗机
美国Uvitron紫外面光源INTELLI-RAY 400W
英国AMBA曝光灯AM7977X,AM11353X(AM7000)
SUSS苏斯光刻机用曝光灯HBO 200W/DC ,HBO 350W/S,
P-Laser激光清洗系统
光谱检测分析仪
曰立Hitachi塞曼原子吸收光谱仪ZA3000
德国neaspec纳米傅里叶红外光谱仪nano-FTIR
美Thorlabs傅立叶红外光谱仪OCS201C,OCS202C,OCS203
德国Bruker ALPHA II FTIR傅立叶变换近红外光谱仪
德国Bruker FT-NIR光谱仪Tango,MPA,Matrix-I
BRAVO手持式拉曼光谱仪
日本JEOL X射线荧光光谱仪JSX-1000S
Dimension FastScan德国BRUKER原子力显微镜AFM
比表面积测定仪
英国MML纳米压痕仪NanoTest Vantage
Kla纳米压痕仪G200,G200X,iMicro
接触角测定仪JY-PHa
德国KRUSS标准型接触角测量仪DSA25
100标准型接触角测量仪/Contact angle measuring dev
100S接触角测量仪
德国Mecwins扫描式激光分析仪SCALA
色谱仪
法SEBIA全自动毛细管电泳仪Capillarys 3 OCTA
LTQ Orbitrap XL ETD液质联用系统
赛默飞Themo Scientific液相色谱系统Vanquish UHPLC
集成型毛细管离子色谱ICS-40
模块化气相色谱仪TRACE 1300
赛默飞多功能离子色谱ICS-5000
X射线仪器
日本Rigaku智能多功能X射线衍射仪Smartlab SE
日本理学XRD X射线多晶衍射仪SmartLab
日本理学台式XRD X射线衍射仪Miniflex 600
德国YXLON高分辨率X射线检测设备-平板探测器
临床检验仪器设备
美国PerkinElmer多功能液闪/发光分析仪MicroBeta
Molecular读板机SpectraMax iD5
无损检测/无损探伤仪器
美国SONIX超声波扫描显微镜ECHO-VS, ECHO Pro
英国AML邦定机AWB 04 & 08 Platform
生物工程设备
DSA100德Kruss液滴形状分析仪
瑞士Cytosurge注入器iyFluidFM BOT
微生物检测仪器
新西兰IZON外泌体分离鉴定系统qNano
Thermo Scientific微生物培养箱Precision
质谱检测分析仪
TSQ Fort三重四极杆质谱仪
磁学测量仪器
美Quantum Design多铁材料磁电测量系统Super-ME-II
激光粒度仪
美SD粒子碰撞噪声检测仪4511A、4511L、4511M4、4511M6
波谱仪器
英国Oxford实验室用智能核磁共振波谱仪Pulsar
细胞生物学仪器
美国Bd单细胞分析系统Rhapsody TM
气体检测仪
日本A&D粒子计数器(粒度计)SV-1A
成像系统
ImageXpress Pico自动细胞成像
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产品系列
产品描述
美SD粒子碰撞噪声检测仪4511A、4511L、4511M4、4511M6
选型说明:
每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括 :控制器,振动台,传感器, 灵敏度测试单元,软件, 示波器, 电缆, 耗材, 及相关文件.其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定,我们的标准配置采用的是M230 振动台可测负载重量,全频率范围内为 400 克 , 换能器台 面直径为22mm~150mm, 换 能 器 因 在 其 中 心 区 域50%面积处灵敏度**,故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件**扁平面面积。
设备用途:
用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验. 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。
适用范围:
用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒.
PIND 技术参数:
振动规格:
频率范围:25 至 250Hz, 正弦曲线
其他振动模式:随机极限,75 至 400Hz 平坦频率
自动阶型频率,40 至 250Hz
低频率程序:**振幅保护随频率变化
频率分辨率:1Hz
时间 :每个程序 0.1 至 25.5 秒
时间程序分辨率:0.1 秒
振幅:0.1 至 25.50’G’峰值,4 位数显
振幅程序分辨率:0.1’G’
重复性:0.5’G’峰值,带反馈控制
D.U.T.载荷:** 350g(整个范围)
** 400g 在 60Hz
冲击规格:
方法:冲击台反馈控制
自适应 D.U.T.载荷冲击
振幅:100 至 2500’G’可编程
程序分辨率:10’G’
重复性:50’G’内
脉冲宽度:<100 微秒在 50%振幅下
典型的是 150-200 微秒在 10%振幅下
冲击延迟:冲击脉冲下降沿时间,从 25 至 250 微秒
D.U.T.载荷:振幅随负载轻微下降
**能力 500 克在 1000g 振幅下
(可能需要改变程序值来加大载荷)
**载荷规格
振动台极限:800 克
振动极限:400 克 W/传感器
冲击极限:500 克(可能需要增加程序值)
电气规格
电源:100,120,220,240VAC+/-10% at 50 or 60 Hz 可选
功耗:** 300 瓦
额定功率放大:**动态加载 100w RMS
声波检测电路:60dB 增益+/- 2 dB
100-200KHz 带宽
极值:两点极值开关,出厂设定
输出:
加速度显示:16 位 LED
频率显示:16 位 LED
极值交替指示:一个冲击检测 LED
一个故障显示 LED
冲击值显示:16 位 LED
示波器:10V,峰值
声音:4w 内部扬声器
*小输出:10V,峰值
冲击传感器规格:
灵敏度:-77.5 dB +/- 3 dB re 1V per 微巴 at 155 kHz
按 ANSI2.1-1988 测量
电缆: 整体 3 通道全屏蔽柔性电缆
电磁干扰保护:所有电缆全法拉第屏蔽
传感器
不同型传感器大小不一样
例如:4511M 传感器参数为:
100-4S155-4(传感器):
压电晶体数量:4 个,每个 0.75 英寸直径检测范围
直径:100mm(4in)
重量:190 克
加速度计规格
灵敏度:2.1 pc/G +/- 10% at 100 Hz
几何位置:装于冲击传感器内
STU 传感器灵敏度:-77.5 dB +/- 3 dB ref 1V per
Microbar at 155 kHz
按 ANSI2.1-1988 测量
外部 STU 脉冲器输出:250 微伏+/- 20%
物理特性(几何外形尺寸)
控制器:13cmX43cmX47cm(5.25X17.0X18.5in)
示波器:13cmX22cmx46cm (5.25X8.5X18in)
M230 振动台:10cm High X 18cm Dia (4 X 7 in)
PIND 检测技术原理
颗 粒 碰 撞 噪 声 检 测 ( Particle Impact Noise Detection,PIND)试验是一种多余物检验的有效手段.其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲
击和振动,通过冲击使被束缚在产品中的颗粒(即多余物)松动,再通过一定频率的振动,使多余物在系统内产生位移。活动多余物在产品中发生位移
的过程,是多余物相对产品壳体的滑动过程和撞击过程的一个随机组合过程。
在这个过程中,将产生应力弹性波和声波。两种波在产品壳体中传播,并形成混响信号,这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后,经前置放大器放大后,位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质,以此得出检测结论.
如图:一个小的金属薄片将对电子元件造成严重的事故